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使用作物冠層分析儀除了要避免陽光直射,這三點(diǎn)也一定要注意

更新時(shí)間:2017-07-06      點(diǎn)擊次數(shù):1484

  作物生長狀況受很多因素的影響,比如作物種子質(zhì)量、土壤環(huán)境、大氣環(huán)境、農(nóng)民種植技術(shù)等等,有些是人為可以控制的,而有些是人們無法左右的,經(jīng)過植物學(xué)家研究得出,作物冠層與作物生長狀況有著重要的關(guān)系,研究作物冠層,能夠研究光能對植物生長的促進(jìn)作用,而這些都離不開作物冠層分析儀,作物冠層分析儀主要用于分析植物的冠層狀況,在使用作物冠層分析儀時(shí)除了要避免陽光直射,這三點(diǎn)也一定要注意:
  1.要注意葉片與傳感器的距離
  作物冠層分析儀是利用傳感器來進(jìn)行測量的,因此測量的過程中,要注意葉片與傳感器的距離,因?yàn)樘矔?dǎo)致測量的誤差。因此要明確葉片與傳感器的距離限制,如果距離無法縮小,可以考慮增加重復(fù)次數(shù)來解決這個問題。
  2.注意斜坡的影響
  在測量的過程中,有些測量對象是在斜坡上的,因此此時(shí)就需要注意了,對于斜坡測量,使用作物冠層分析儀的時(shí)候,應(yīng)該盡量使傳感器保持與斜坡相匹配,而不是實(shí)際的水平。
    3.注意樣地尺寸的影響
    由于在測量的過程中,要保證傳感器的視野范圍是冠層高度的3倍,因此這就對樣地的尺寸有要求,如果尺寸太小,勢必會影響測定結(jié)果,但是如果實(shí)在是無法解決樣地尺寸太小的問題,那么可以采用觀察帽的方法。
  作物冠層分析儀型號為TOP-3000,植物冠層太大,不利于植物的光合作用,這樣植物生長就會受阻,作物冠層分析儀分析作物的冠層生長狀況,從而可以進(jìn)一步分析作物長勢。

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